Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов

Превью изображение
Читать (3.79 MB)

Аннотация

Описание

Авторы

Составители/Переводчики

Год

2004

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Издательство

Ключевые слова

авторефераты диссертаций, приборостроение, кластерные материалы

Коллекции

22.3 Физика
dc.contributor.authorТюриков, Александр Валерьевич
dc.date.accessioned2020-07-16T12:25:54Z
dc.date.available2020-07-16T12:25:54Z
dc.date.issued2004
dc.identifier.citationТюриков, Александр Валерьевич. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальности: 05.11.14 - технология приборостроения, 05.11.13 - приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий / Тюриков Александр Валерьевич ; научный руководитель: Липанов Алексей Матвеевич ; научный консультант: Шелковников Евгений Юрьевич ; Институт прикладной механики УрО РАН. - Ижевск, 2004. - 20 с. : рис.ru_RU
dc.identifier.otherarhiv_book_11373
dc.identifier.urihttp://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25368
dc.language.isoruru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectприборостроениеru_RU
dc.subjectкластерные материалыru_RU
dc.titleЭлектрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материаловru_RU
dc.typeThesisru_RU