Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов

Превью изображение
Читать (4.3 MB)

Аннотация

Описание

Авторы

Составители/Переводчики

Год

2000

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Издательство

Ключевые слова

авторефераты диссертаций, электронная микроскопия, электронные приборы

Коллекции

22.3 Физика
dc.contributor.authorШелковников, Евгений Юрьевич
dc.date.accessioned2020-07-22T05:50:22Z
dc.date.available2020-07-22T05:50:22Z
dc.date.issued2000
dc.identifier.citationШелковников, Евгений Юрьевич. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата технических наук : специальность: 05.11.13 - приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий / Шелковников Евгений Юрьевич ; научный руководитель: А. М. Липанов ; Институт прикладной механики УрО РАН. - Ижевск, 2000. - 20 с. : рис., табл.ru_RU
dc.identifier.otherarhiv_book_11384
dc.identifier.urihttp://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25410
dc.language.isoruru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectэлектронная микроскопияru_RU
dc.subjectэлектронные приборыru_RU
dc.titleИсследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материаловru_RU
dc.typeThesisru_RU