Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста

Авторы

2009

dc.contributor.author	Окунев, Алексей Олегович
dc.contributor.other	Шульпина, Ирэн Леонидовна
dc.date.accessioned	2021-03-29T10:37:46Z
dc.date.available	2021-03-29T10:37:46Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.citation	Окунев, Алексей Олегович. Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста : автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физико-мат. наук / Окунев Алексей Олегович. - Ижевск : Удмуртский государственный университет, 2009. - 46 с. : ил.	ru_RU
dc.identifier.other	arhiv_book_12810
dc.identifier.uri	http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26808
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.subject	полупроводники	ru_RU
dc.subject	авторефераты диссертаций	ru_RU
dc.subject	рентгеновская топография	ru_RU
dc.subject	дефекты кристаллической решетки	ru_RU
dc.title	Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста	ru_RU
dc.type	Thesis	ru_RU