Теоретические основы квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе "профильная школа-втуз"

Превью изображение
Читать (20.67 MB)

Аннотация

В работе рассматриваются особенности и концептуальные подходы к проектированию квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе «профильная школа-втуз», а также вопросы его организации и квалиметрического обеспечения.

Описание

Авторы

Составители/Переводчики

Год

2007

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Издательство

Стикс

Ключевые слова

квалиметрический мониторинг, профильное обучение, школа-втуз

Коллекции

74.2 Педагогика школы
dc.contributor.authorШихов, Юрий Александрович
dc.date.accessioned2020-10-02T07:07:37Z
dc.date.available2020-10-02T07:07:37Z
dc.date.issued2007
dc.description.abstractВ работе рассматриваются особенности и концептуальные подходы к проектированию квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе «профильная школа-втуз», а также вопросы его организации и квалиметрического обеспечения.ru_RU
dc.identifier.citationШихов, Юрий Александрович. Теоретические основы квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе "профильная школа-втуз" : монография / Ю. А. Шихов ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Уральское отделение Российской академии образования, Ижевский филиал . - Екатеринбург ; Ижевск : Фирма "Стикс", 2007. - 141 с. : ил.ru_RU
dc.identifier.otherarhiv_book_11465
dc.identifier.urihttp://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25687
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherСтиксru_RU
dc.subjectквалиметрический мониторингru_RU
dc.subjectпрофильное обучениеru_RU
dc.subjectшкола-втузru_RU
dc.titleТеоретические основы квалиметрического мониторинга качества подготовки в системе "профильная школа-втуз"ru_RU
dc.typeBookru_RU