| dc.contributor.author | Шелковников, Евгений Юрьевич | |
| dc.date.accessioned | 2020-12-24T12:37:07Z | |
| dc.date.available | 2020-12-24T12:37:07Z | |
| dc.date.issued | 2008 | |
| dc.identifier.citation | Шелковников, Евгений Юрьевич. Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом : автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук / Шелковников Евгений Юрьевич. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2008. - 48 с. : ил. | ru_RU |
| dc.identifier.other | arhiv_book_12272 | |
| dc.identifier.uri | http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26206 | |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
| dc.subject | промышленность | ru_RU |
| dc.subject | научные исследования | ru_RU |
| dc.subject | наночастицы | ru_RU |
| dc.title | Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом | ru_RU |
| dc.type | Thesis | ru_RU |
