Книжная палата Национальной библиотеки Удмуртской Республики
    • русский
    • English
  • English 
    • русский
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace Home
  • Книжная палата
  • 3. Техника. Технические науки
  • 30. Техника и технические науки в целом
  • View Item
  •   DSpace Home
  • Книжная палата
  • 3. Техника. Технические науки
  • 30. Техника и технические науки в целом
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом

Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом - Шелковников, Евгений Юрьевич
Читать онлайн (10.06Mb)
Title
Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом
Author
Шелковников, Евгений Юрьевич
Date
2008
Subject
авторефераты диссертаций, промышленность, научные исследования, наночастицы
Collections
  • 30. Техника и технические науки в целом [97]

Полная карточка

dc.contributor.authorШелковников, Евгений Юрьевич
dc.date.accessioned2020-12-24T12:37:07Z
dc.date.available2020-12-24T12:37:07Z
dc.date.issued2008
dc.identifier.citationШелковников, Евгений Юрьевич. Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом : автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук / Шелковников Евгений Юрьевич. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2008. - 48 с. : ил.ru_RU
dc.identifier.otherarhiv_book_12272
dc.identifier.urihttp://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26206
dc.language.isoruru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectпромышленностьru_RU
dc.subjectнаучные исследованияru_RU
dc.subjectнаночастицыru_RU
dc.titleПрограммно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопомru_RU
dc.typeThesisru_RU

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV
 

 

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

Login

DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
Contact Us | Send Feedback
Theme by 
Atmire NV