Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом

Загрузка...
Превью изображение

Аннотация

В монографии изложены метрологические аспекты вопросов контроля геометрических параметров ультрадисперсных частиц сканирующим туннельным микроскопом. Рассмотрены теоретические особенности процесса химического травления атомарно острых измерительных игл и технологии их изготовления. Приведены технические и методические решения, направленные на разработку программно-аппаратного обеспечения специализированного цифрового сканирующего туннельного микроскопа.

Описание

Составители/Переводчики

Год

2008

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Издательство

dc.contributor.authorШелковников, Евгений Юрьевич
dc.date.accessioned2021-03-22T12:36:05Z
dc.date.available2021-03-22T12:36:05Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstractВ монографии изложены метрологические аспекты вопросов контроля геометрических параметров ультрадисперсных частиц сканирующим туннельным микроскопом. Рассмотрены теоретические особенности процесса химического травления атомарно острых измерительных игл и технологии их изготовления. Приведены технические и методические решения, направленные на разработку программно-аппаратного обеспечения специализированного цифрового сканирующего туннельного микроскопа.ru_RU
dc.identifier.citationШелковников, Евгений Юрьевич. Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников ; Ин-т приклад. механики Урал. отд-ния Рос. акад. наук. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2008. - 252 с. : ил.ru_RU
dc.identifier.otherarhiv_book_12534
dc.identifier.urihttp://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26747
dc.language.isoruru_RU
dc.subjectмонографииru_RU
dc.subjectтуннельный микроскопru_RU
dc.subjectультрадисперсные частицыru_RU
dc.subjectинформационно-измерительная техникаru_RU
dc.titleТеория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопомru_RU
dc.typeBookru_RU