Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста

Загрузка...
Превью изображение

Аннотация

Описание

Составители/Переводчики

Год

2009

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Издательство

Коллекции

dc.contributor.authorОкунев, Алексей Олегович
dc.contributor.otherШульпина, Ирэн Леонидовна
dc.date.accessioned2021-03-29T10:37:46Z
dc.date.available2021-03-29T10:37:46Z
dc.date.issued2009
dc.identifier.citationОкунев, Алексей Олегович. Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста : автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физико-мат. наук / Окунев Алексей Олегович. - Ижевск : Удмуртский государственный университет, 2009. - 46 с. : ил.ru_RU
dc.identifier.otherarhiv_book_12810
dc.identifier.urihttp://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26808
dc.language.isoruru_RU
dc.subjectполупроводникиru_RU
dc.subjectавторефераты диссертацийru_RU
dc.subjectрентгеновская топографияru_RU
dc.subjectдефекты кристаллической решеткиru_RU
dc.titleАнализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контрастаru_RU
dc.typeThesisru_RU