Тюриков, Александр Валерьевич2020-07-162020-07-162004Тюриков, Александр Валерьевич. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : специальности: 05.11.14 - технология приборостроения, 05.11.13 - приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий / Тюриков Александр Валерьевич ; научный руководитель: Липанов Алексей Матвеевич ; научный консультант: Шелковников Евгений Юрьевич ; Институт прикладной механики УрО РАН. - Ижевск, 2004. - 20 с. : рис.arhiv_book_11373http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25368ruавторефераты диссертацийприборостроениекластерные материалыThesis