Шелковников, Евгений Юрьевич2021-03-222021-03-222008Шелковников, Евгений Юрьевич. Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников ; Ин-т приклад. механики Урал. отд-ния Рос. акад. наук. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2008. - 252 с. : ил.arhiv_book_12534http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26747В монографии изложены метрологические аспекты вопросов контроля геометрических параметров ультрадисперсных частиц сканирующим туннельным микроскопом. Рассмотрены теоретические особенности процесса химического травления атомарно острых измерительных игл и технологии их изготовления. Приведены технические и методические решения, направленные на разработку программно-аппаратного обеспечения специализированного цифрового сканирующего туннельного микроскопа.ruмонографиитуннельный микроскопультрадисперсные частицыинформационно-измерительная техникаBook