Шелковников, Евгений Юрьевич2020-10-072020-10-072000Шелковников, Евгений Юрьевич. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : диссертация на соискание учёной степени кандидата технических наук : специальность: 05.11.13. - приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий / Шелковников Евгений Юрьевич ; научный руководитель: А. М. Липанов ; Институт прикладной механики УрО РАН. - Ижевск, 2000. - 177 л. : рис., табл.arhiv_book_11663http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25711ruдиссертациифизикаэлектронная микроскопияэлектронные приборыThesis