Шелковников, Евгений Юрьевич2020-12-242020-12-242008Шелковников, Евгений Юрьевич. Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом : автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук / Шелковников Евгений Юрьевич. - Ижевск : ИПМ УрО РАН, 2008. - 48 с. : ил.arhiv_book_12272http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26206ruавторефераты диссертацийпромышленностьнаучные исследованиянаночастицыThesis