Окунев, Алексей ОлеговичШульпина, Ирэн Леонидовна2021-03-292021-03-292009Окунев, Алексей Олегович. Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста : автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физико-мат. наук / Окунев Алексей Олегович. - Ижевск : Удмуртский государственный университет, 2009. - 46 с. : ил.arhiv_book_12810http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/26808ruполупроводникиавторефераты диссертацийрентгеновская топографиядефекты кристаллической решеткиThesis