Шелковников, Евгений Юрьевич2020-07-222020-07-222000Шелковников, Евгений Юрьевич. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата технических наук : специальность: 05.11.13 - приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий / Шелковников Евгений Юрьевич ; научный руководитель: А. М. Липанов ; Институт прикладной механики УрО РАН. - Ижевск, 2000. - 20 с. : рис., табл.arhiv_book_11384http://eanbur.unatlib.ru/handle/123456789/25410ruавторефераты диссертацийэлектронная микроскопияэлектронные приборыThesis